18082064455
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以四氟化硅为原料,采用CVD法制造,具有大尺寸、低杂质含量等特性,光学均匀性好,可用于LCD光掩膜基板、高能激光光学元件和半导体石英器件的制造。
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产品指标
金属杂质
(ppb))
羟基
(ppm)
应力双折射
(nm/cm)
尺寸
(mm)
波段
(nm)
I级:<5×10-6
II级:<10×10-6
III级:<200×10-6
备注:可根据使用尺寸定制生产方案
金属杂质含量
单位:ppb
光学非均匀性与应力双折射